Les essais mécaniques suivis d’études microstructurales fournissent aux chercheurs des informations leur permettant de prédire par calcul les performances mécaniques des composants. Deux types de microscopes électroniques sont généralement utilisés et apportent des informations complémentaires : à l’échelle micro/nano, la Microscopie Électronique en Transmission (MET) et à l’échelle macro/méso-scopique, la Microscopie Électronique à Balayage (SEM).

Le MET

Le MET est l’une des techniques les plus connues pour observer et caractériser les défauts cristallins d’une part à l’échelle sub-micronique, et d’autre part, à l’échelle nanométrique dans des lames minces transparentes aux électrons (épaisseur de ≈ 100 nm). Ces études détaillées à l’échelle microscopique apportent des informations précieuses pour extrapoler à la réponse macroscopique des matériaux.

Le MEB

Le MEB utilise un mince faisceau d’électrons, émis par un canon à électrons. Des lentilles électromagnétiques focalisent ce faisceau sur l’échantillon. L’interaction entre les électrons incidents et l’échantillon provoque la formation de nouveaux électrons. Ils sont ensuite détectés et convertis en un signal électrique. Ce processus s’effectue en chaque point de l’échantillon par balayage. La collecte des signaux permet de reconstruire la topographie de la surface de l’échantillon.

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Quelques unes de mes publications le sujet

Evidence of dislocation cross-slip in MAX phase deformed at high temperature.
A. Guitton, A. Joulain, L. Thilly, C. Tromas
SCIENTIFIC REPORTS, 2014, 4 (6358)
DOI: 10.1038/srep06358

Dislocation analysis of Ti2AlN deformed at room temperature under confining pressure.
A. Guitton, A. Joulain, L. Thilly, C. Tromas
PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2012, 92 (36), 4536–4546
DOI: 10.1080/14786435.2012.715250